產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
當前位置：首頁
產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)顯微缺陷膜厚
產(chǎn)品分類
相關(guān)文章
該檢測器 是一種高性能的分光光度計 ，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等 方面取得 了 多項成果 。 覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長范圍
更新時間：2025-05-07
產(chǎn)品型號：
瀏覽量：484
●非接觸式、非破壞性光學式膜厚檢測 ●采用分光干涉法實現(xiàn)高度檢測再現(xiàn)性 ●可進行高速的即時研磨檢測 ●可穿越保護膜、觀景窗等中間層的檢測 ●可對應(yīng)長工作距離、且容易安裝于產(chǎn)線或者設(shè)備中 ●體積小、省空間、設(shè)備安裝簡易 ●可對應(yīng)線上檢測的外部信號觸發(fā)需求 ●采用最適shi合膜厚檢測的獨自解析演算法。(已取得專zhuan利) ●可自動進行膜厚分布制圖(選配項目)
更新時間：2025-05-07產(chǎn)品型號：瀏覽量：521
MINUK是一種可以評估納米量級的透明異物和缺陷的設(shè)備，可以單次獲取高度方向的信息，并且可以無損、非接觸、非侵入性地進行測量。 此外，還可以高速掃描任何表面并確定測量位置，而無需對焦。
更新時間：2025-05-07產(chǎn)品型號：瀏覽量：376
本產(chǎn)品為粒徑及zeta電位測量專用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。 根據(jù)用途，可以根據(jù)需要定制任意數(shù)量的必要功能。
更新時間：2025-05-07產(chǎn)品型號：瀏覽量：416
● 可根據(jù)用途增加功能(分子量測定、粒子濃度測定、微流變測定、凝膠網(wǎng)眼結(jié)構(gòu)分析、粒徑多角度測定) ● 可以用標準流動池連續(xù)測量粒徑和zeta電位 ● 可以測量從稀薄到濃厚溶液(~40% )的廣泛濃度范圍的粒徑zeta電位 ● 可以在高鹽濃度下測定平板狀樣品的zeta電位 ● 可在0~90℃的廣闊溫度范圍內(nèi)進行測量 ● 通過溫度梯度功能，可對蛋白質(zhì)等的變性及相變溫度進行解析
更新時間：2025-05-07產(chǎn)品型號：瀏覽量：385
ELSZ series的最zu高級機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進行分子量測定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測定。另外，也可實現(xiàn)測量粒子濃度測定、微流變學測定、凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)分析。 全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發(fā)的對應(yīng)高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環(huán)境下進行測量。
更新時間：2025-05-07產(chǎn)品型號：瀏覽量：420公司郵箱： qgao@buybm.com
服務(wù)熱線： 021-33897997
公司地址： 上海市浦東新區(qū)周康路26號E棟408
Copyright © 2025 上海波銘科學儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號：滬ICP備19020138號-2
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
關(guān)于我們
公司簡介 企業(yè)文化 榮譽資質(zhì) 聯(lián)系我們快速通道
產(chǎn)品中心 新聞中心 技術(shù)文章 在線留言推薦產(chǎn)品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 半導體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng) RU120便攜式拉曼光譜儀
