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產(chǎn)品中心半導體材料測試橢偏拉曼AFM反射譜成像技術
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iSR是一種微光斑測試技術，用于實時刻蝕和Halftone工藝中的厚度測試
產(chǎn)品分類
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波數(shù)測試范圍從20到100cm-1
橢偏和iSR同步測試，可以獲得二維高分辨厚度圖譜
上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展，上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務在行業(yè)內具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場地位和影響力。
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